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Thick800A精度高的膜厚仪
Thick800A精度高的膜厚仪
参数规格1 分析元素范围：K-U
2 同时可分析多达5层以上镀层
3 分析厚度检出限*达0.005μm
4 多次测量重复性*可达0.01μm
5 定位精度：0.1mm
5 测量时间：30s-300s
6 计数率：1300-8000cps
7 Z轴升降范围：0-140mm
8 X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)
1 满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
2 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
安装要求：
1 环境温度要求：15℃-30℃
2 环境相对湿度：<70%
3 工作电源：交流220±5V
4 周围不能有强电磁干扰。
1 硬件：主机壹台，含下列主要部件：
(1) X光管 (2) 半导体探测器
(3) 放大电路 (4) 高精度样品移动平台
(5) 高清晰摄像头 (6) 高压系统
(7) 上照、开放式样品腔 (8）双激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2 软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
3 计算机、打印机各台
计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）
4 资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各份。
5 标准附件
准直孔：0.1X1.0mm（已内置于仪器中）
1 分析元素范围：K-U
2 同时可分析多达5层以上镀层
3 分析厚度检出限*达0.005μm
4 多次测量重复性*可达0.01μm
5 定位精度：0.1mm
5 测量时间：30s-300s
6 计数率：1300-8000cps
7 Z轴升降范围：0-140mm
8 X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)
更新时间：2024/5/13 16:13:32
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