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Thick800AX-ray膜厚仪
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Thick800AX-ray膜厚仪
仪器介绍
天瑞公司92年开始做X荧光光谱仪，在质量管理方面有完善的质量管理体系，在来料、加工过程、整机、出货各个环节严格把关，确保产品的性能和质量精优。天瑞仪器在检测精度、检测功能、操作便捷性等方面直保持内*。
Thick800A是天瑞仪器结合20多年的X荧光研发经验，集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，研制出具有自主知识产权的，性价比*优的金属电镀层厚度检测仪。
操作流程般有以下几种方法：
Thick800A是天瑞仪器结合20多年的X荧光研发经验，集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，研制出具有自主知识产权的，性价比*优的金属电镀层厚度检测仪。
操作流程般有以下几种方法：
1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005
2、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005
3、库仑法，此法般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美标准A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
1.性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的性更高。
2.满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种*的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
3.快速：40S就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
4.无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
5.直观：实时谱图，可直观显示产品测试点
6.简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。
7.性价比高：相比其他类类仪器，x荧光镀层测厚仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
更新时间：2024/5/13 16:13:32
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