产品展示/PRODUCTS SHOW
Thick800A镀金镍测厚仪
镀金镍测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。产品简介
产电镀层测厚仪商品技术参数
| 是否进口 | 否 | 订货号 | 003 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 是 | 类型 | XRFX射线 |
| 品牌 | 天瑞仪器 | 型号 | THICK8OOA |
| 测量范围 | s-u | 显示方式 | 电脑显示 |
| 电源电压 | 220V | 外形尺寸 | 576(W)×495(D)×545(H) mm |
商品介绍
光谱测厚仪是生产厂家的优势，天瑞仪器是专业生产金属镀层测厚仪厂家，分析仪器上市企业，thick800A是款自动化程度较高的仪器，电脑操作，极大方便了客户使用。配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
光谱测厚仪采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
光谱测厚仪采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
分析含量般为ppm到99.9% 。
镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
稳定X铜光管
半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
脉冲处理器，数据处理快速
手动开关样品腔，操作安方便
三重安保护模式
整体钢架结构、外型高贵时尚
锌镍镀层X射线测厚仪FP软件，无标准样品时亦可测量
应用领域
广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业
部分产品
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产品介绍
金属镀层分析仪（X-Ray)适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括：金（Au），银（Ag），锡（Sn），铜（Cu），镍（Ni），铬（Cr）等金属元素厚度。本测量方法可同时测量三层覆盖层体系，或同时测量三层组分的厚度和成分。天瑞仪器thick600金属镀层分析仪是款性价比极高的产品，得到了广泛应用和。
工作原理
X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。
技术指标
型号：THICK600
分析范围： Ti-U，可分析3层15个元素
分析厚度：般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）
测量时间：40秒（可根据实际情况调整）
探测器分辨率：（160±5）eV
光管高压：5-50kV
管流：50μA-1000μA
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：30%-70%
准直器：配置不同直径准直孔，小孔径φ0.2mm
仪器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm
仪器重量：30kg
部分产品介绍
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应用领域
金属镀层测厚仪广泛应用在黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定，主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
更新时间：2024/4/24 17:46:16
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