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粉末冶金元素分析仪|粉末重金属检测仪|EDX3600K|江苏天瑞仪器股份有限公司

粉末冶金元素分析仪|粉末重金属检测仪|EDX3600K|江苏天瑞仪器股份有限公司
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型号:EDX3600K

采购度:5182    原产地:中国大陆

发布时间:2019/4/15 14:39:38

产品简介:粉末冶金元素分析仪|粉末重金属检测仪|EDX3600K|江苏天瑞仪器股份有限公司的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔,产品通过了江苏省计量科学研究院的检测,并通过中仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定,技术达到际水平。

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详细信息
  • 企业名称:天瑞仪器

粉末冶金元素分析仪|粉末重金属检测仪|EDX3600K|江苏天瑞仪器股份有限公司

粉末冶金

粉末冶金是制取金属粉末或用金属粉末(或金属粉末与非金属粉末的混合物)作为原料,经过成形和烧结,制造金属材料、复合材料以及各种类型制品的工艺技术。粉末冶金法与生产陶瓷有相似的地方,均属于粉末烧结技术,因此,系列粉末冶金新技术也可用于陶瓷材料的制备。由于粉末冶金技术的优点,它已成为解决新材料问题的钥匙,在新材料的发展中起着举足轻重的作用。

粉末冶金包括制粉和制品。其中制粉主要是冶金过程,和字面吻合。而粉末冶金制品则常远远超出材料和冶金的范畴,往往是跨多学科(材料和冶金,机械和力学等)的技术。尤其现代金属粉末3D打印,集机械工程、CAD、逆向工程技术、分层制造技术、数控技术、材料科学、激光技术于身,使得粉末冶金制品技术成为跨更多学科的现代综合技术。

粉末冶金元素分析仪|粉末重金属检测仪|EDX3600K|江苏天瑞仪器股份有限公司

型号:EDX3600K

粉末冶金元素分析仪|粉末重金属检测仪|EDX3600K|江苏天瑞仪器股份有限公司

产品简介、技术参数及配置

X荧光光谱仪属于的分析检测仪器,随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展,传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式,转化成光、机、电、算(计算机)体化、自动化的结构,并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式X荧光光谱仪技术为基础,结合外相关新的技术发展成果,研制出具有自主知识产权的EDX 3600K型X荧光光谱仪。

EDX 3600K X荧光光谱仪的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔,产品通过了江苏省计量科学研究院的检测,并通过中仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定,技术达到际水平。

应用领域

专为粉未冶炼行业研发的款设备,主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。
同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。

性能优势:

1.超低能量分辨率,轻元素检测效果更佳
使用大面积铍窗电致冷SDD探测器,探测器分辨率达到139eV,各项指标优于家标准。SDD探测器具有良好的能量线
性、良好的能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;对Si、S、AI等轻元素的测试具有良好的分析精度。

2. 测试精度更高,检出限更低
①专业化的样品腔设计,带可调速的自旋样品腔,能的测定轻元素和减少样品均性的影响,提高样品的测试精度。
②采用超小超真空的样品腔设计,测试时达到10Pa以下,使设备的测试范围可从F元素起测试,大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。

3. 分析速度更快,从1秒即可得到定性定量结果
采用自主研发的数字多道技术,其线性计数率可达100kcps,可以更加快速的分析,从1秒就可以得出定性定量结果,
设计成高计数率,大大提高了设备的稳定性。

4. 键式智能化操作
专业软件,的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、键智能化操作,使操作简易,对操作人员限制小的特点。

5. 强大的自动化功能
①自动化程度高,具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。
②采用自动稳谱装置,了仪器工作的致性:利用解谱技术使谱峰分解,采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

6. 强度校正法
具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

7. 完善的光路系统
自主研发的光路系统,光程更短,光路损失更少,激发效果更佳。

8. 三重安防护功能
三重安防护功能,自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏;加厚防护测试壁;配送测试防护安罩。

9. 安警示系统
警告指示系统,通电时绿色指示灯亮,测试时黄色辐射指示灯闪烁,防止误操作。

仪器配置:

铍窗电制冷SDD探测器
自旋式样品腔
超薄窗X光管
超近光路增强系统
可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型

技术参数

型号:EDX3600K
X射线源:50KV、1mA
样品腔体积:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X荧光分析方法
测量元素范围:原子序数为9~92[氟(F)到铀(U)]之间的元素均可测量
检测元素:同时分析元素达三十多种,可根据客户需要增加元素
含量范围:ppm~99.99%
检测时间:10秒以上
检测对象:标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率:超大超薄的SDD探测器,分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器至125eV
激发源:铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
测井环境:超真空系统,10秒可抽到10Pa以下
滤光片:6种滤光片组合自动切换
自旋装置:可调速的自旋装置
检出限:对样品中的大多数元素来说,检出限达5~500ppm
真空系统:超真空系统,10秒可到10Pa
数据传输:数字多道技术,快速分析,高计数率
测试台:360°电动旋转式
保护系统:样品腔为电动控制,上盖打开时测试已完成
样品放置:独特的样品杯设计,自带压环,可防止样品晃动
数字多道技术:计数率>50kcps,计数率高至500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃

软件优势:

采用公司新的能谱EDXRF软件,的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、键智能化操作,操作简易,对操作人员限制小的特点。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

新的软件界面和内核,采用FP和EC软件组合的方法,应用面更加广泛。


 

 

更新时间:2024/3/27 16:21:35

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